Advanced electrical impedance tomography system with high...

Advanced electrical impedance tomography system with high phase accuracy

Egon Zimmermann, J. A. Huisman, A. Kemna, J. Berwix, W. Glaas, H. Meier, B. Wolters, O. Esser
Jak bardzo podobała Ci się ta książka?
Jaka jest jakość pobranego pliku?
Pobierz książkę, aby ocenić jej jakość
Jaka jest jakość pobranych plików?
pp. 583 - 591 in the abstracts volume
Rok:
2010
Wydawnictwo:
International Society for Industrial Process Tomography
Język:
english
Strony:
9
Serie:
6th World Congress on Industrial Process Tomography
Plik:
PDF, 826 KB
IPFS:
CID , CID Blake2b
english, 2010
Ściągnij (pdf, 826 KB)
Trwa konwersja do
Konwersja do nie powiodła się

Najbardziej popularne frazy