Advanced electrical impedance tomography system with high phase accuracy
Egon Zimmermann, J. A. Huisman, A. Kemna, J. Berwix, W. Glaas, H. Meier, B. Wolters, O. Esser
pp. 583 - 591 in the abstracts volume
Kategorie:
Rok:
2010
Wydawnictwo:
International Society for Industrial Process Tomography
Język:
english
Strony:
9
Serie:
6th World Congress on Industrial Process Tomography
Plik:
PDF, 826 KB
IPFS:
,
english, 2010